期刊文章详细信息
稳态工作条件下功率晶体管结温的测量与控制
Measurement and Controlling of Junction Temperature of Power Bipolar Transistor During Succession Operation Life Test
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京航空航天大学可靠性工程研究所,北京100083 [2]济南大学物理系,济南250002
年 份：2006
卷 号：31
期 号：1
起止页码：35-39
语 种：中文
收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊
摘 要：为了在试验周期中了解晶体管的结温,提出一种在功率晶体管稳态工作寿命试验过程中结温的测量与控制方法。着重介绍了基于理想pn结肖克莱方程的结温测量原理,及试验过程中结温测控的技术难点和解决方案,指出了晶体管结温计算中存在的问题和修正办法,实验结果证明了该方法的可行性。
关 键 词：晶体管 稳态工作 结温 测量 控制
分 类 号：TN321]
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