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期刊文章详细信息

基于VXI总线技术的自动测试系统的研制  ( EI收录)  

Design of Automatic Test System Based on VXI Bus Technology

  

文献类型:期刊文章

作  者:李树盛[1]

机构地区:[1]中北大学电子科学与技术系,山西太原030051

出  处:《测试技术学报》

年  份:2005

卷  号:19

期  号:4

起止页码:459-463

语  种:中文

收录情况:AJ、EI(收录号:2006019626191)、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘  要:叙述了用于满足导弹研制测试需求的基于VX I总线技术开发的先进的自动测试系统,分析了某飞航导弹自动测试系统的功能需求,在此基础上给出测试系统的工作原理.并且详细介绍了测试系统中需要自行研发的RS-422串行通信模块设计,包括串行通信模块总体框图和功能电路设计方案.介绍了32路扫描A/D模块设计及触发模块设计和扫描时序发生器设计.

关 键 词:自动测试系统 VXI总线 串行通信模块  扫描A/D模块  触发模块 时序发生器

分 类 号:TP336]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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