文献类型：期刊文章

作　　者：聂康明[1] 庞文民[2] 王雨松[2] 鲁非[2] 朱清仁[2]

机构地区：[1]安徽大学化学化工学院材料系,合肥230039 [2]中国科学技术大学结构分析重点实验室,合肥230026

出　　处：《Chinese Journal of Chemical Physics》

基　　金：ProjectsupportedbytheNaturalScienceFoundationofAnhuiProvince(03044801)andtheNaturalScienceFoundationofChina(50333060).

年　　份：2005

卷　　号：18

期　　号：6

起止页码：1023-1028

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、INSPEC、JST、RSC、SCIE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：应用扫描电子显微镜、广角X射线衍射和差示扫描量热手段研究了有机高分子/无机组分间以物理次价力(氢键)键合的高分子量PCL/SiO2杂化材料纳米相微结构和PCL高分子链在该微结构环境中的结晶成核生长特性及其影响因素.研究结果表明:杂化体系中高分子/无机组分间的微相分离尺度在纳米数量级,高分子微区的平均相畴尺寸在70nm左右,无机相形态呈现不规则的颗粒状.两相均匀分布程度与体系中组分间的氢键键合强度有关.PCL杂化后结晶度减小,对应的微晶尺寸明显改变,平衡熔点随无机组成含量的增加而下降.高分子链在晶核表面折叠形成结晶结构所需的能量增加.这一结果归因于无机非晶SiO2和键合强度的影响.

关 键 词：聚己内酯 有机-无机杂化材料 微结构 结晶成核生长  

分 类 号：O782]