文献类型：期刊文章

作　　者：胡倾宇[1] 路荣涛[1] 郭玉良[1] 周玉祥[2] Salama K[2]

机构地区：[1]海泰超导通讯科技（天津）有限公司,天津300384 [2]休斯敦大学德克萨斯超导中心及机械工程系,美国德克萨斯州 77204

出　　处：《低温物理学报》

年　　份：2005

卷　　号：27

期　　号：A02

起止页码：769-774

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：用真空三源热共蒸发法制备了二十厘米长的涂层导体,其宽度为1厘米,超导层宽度为0.9厘米,厚度为600纳米.使用直流四引线法测试,导体在77K时的临界电流大于120安培,相应的临界电流密度大于每平方厘米220万安培.表征电流-电压曲线超导转变陡峭度的n值为35.显微结构观察表明其膜层显微形貌与单晶衬底上的薄膜极其相似.X射线衍射研究表明超导薄膜的相成分纯,面内FWHM为Δφ=6.23°,面外FWHM为Δω=3.84°,表明涂层的优良织构.在此文章将详细报告导体的制备和显微结构及物理测试结果.

关 键 词：涂层导体 显微结构 制备  临界电流密度 蒸法 直流四引线法  超导薄膜  FWHM 物理测试 X射线衍射  

分 类 号：O511.9]