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期刊文章详细信息

二重结构30MSPS采样/保持电路的研究与探讨    

A Study on Improved Two-Level Sample-and-Hold Circuits with a 3 MHz Sinewave Sampled at 30 MHz

  

文献类型:期刊文章

作  者:闫杰[1] 王百鸣[2]

机构地区:[1]深圳大学光电子学研究所,广东深圳518060 [2]深圳大学信息工程学院EDA技术中心,广东深圳518060

出  处:《微电子学》

基  金:国家自然科学基金重大项目资助(90407001);深圳市科技计划资助项目(2002)

年  份:2005

卷  号:35

期  号:6

起止页码:565-567

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、IC、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊

摘  要:通过理论分析和实验仿真,对同相型采样/保持器(S/H)进行扩展改进,提出了三种高速的二重结构S/H电路,采样速率高达30 MSPS。实验表明,在维持采样高速率的前提下,这三种电路在一定程度上解决了截止开关电流泄漏的问题,从而降低了保持电容上的电压跌落率。

关 键 词:采样/保持器  泄漏电流 二重结构

分 类 号:TN402]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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