文献类型：期刊文章

作　　者：方建平[1] 郝跃[1] 刘红侠[1] 李康[1]

机构地区：[1]西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件重点实验室,陕西西安710071

出　　处：《电子学报》

基　　金：国家高技术研究发展计划(No.2003AA1Z1630);自然科学基金(No.60206006)

年　　份：2005

卷　　号：33

期　　号：11

起止页码：1973-1977

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：本文提出了一种有效的基于游程编码的测试数据压缩/解压缩的算法:混合游程编码,它具有压缩率高和相应解码电路硬件开销小的突出特点.另外,由于编码算法的压缩率和测试数据中不确定位的填充策略有很大的关系,所以为了进一步提高测试压缩编码效率,本文还提出一种不确定位的迭代排序填充算法.理论分析和对部分IS-CAS 89 benchmark电路的实验结果证明了混合游程编码和迭代排序填充算法的有效性.

关 键 词：测试数据压缩 不确定位填充  system-on-a  chip(SOC)测试  混合游程编码  

分 类 号：TP391.76]