期刊文章详细信息
电子元器件使用过程中的可靠性试验
Reliability Experiment about Applied Process of Electronic Component
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中国电子科技集团公司第41研究所,青岛266555 [2]将军烟草集团有限公司济南卷烟厂技术设备处,济南250100
年 份：2005
期 号：11
起止页码：33-35
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：本文介绍了影响电子元器件可靠性的因素和可靠性试验的原理,主要阐述在电子产品生产过程中,为确保产品的可靠性,如何对电子元器件进行可靠性试验。
关 键 词：电子元器件 可靠性试验 使用过程
分 类 号：TN606]
参考文献：
正在载入数据...
二级参考文献：
正在载入数据...
耦合文献：
正在载入数据...
引证文献：
正在载入数据...
二级引证文献：
正在载入数据...
同被引文献：
正在载入数据...
