文献类型：期刊文章

作　　者：杨吟野[1] 汤洪敏[2]

机构地区：[1]贵州民族学院物理系,贵州贵阳550025 [2]贵州民族学院化学系,贵州贵阳550025

出　　处：《材料科学与工程学报》

基　　金：贵州省科学技术基金资助项目(20033004);贵州民族学院基金资助项目.

年　　份：2005

卷　　号：23

期　　号：5

起止页码：605-608

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：提出一种测量材料表面电荷是非均匀的、没有中性区的弱电荷的方法。即测试时,利用扫描探针显微镜(SPM)的静电力显微镜(EFM)测量技术,依靠轻敲模式(TappingMode)和抬举模式(LiftMode),用相位成像测量有机高分子膜———壳聚糖膜(CHI)的表面电荷密度空间分布,但由于仪器设计中相位的泰勒展开是:sinΔΦ≈1/2ΔΦ,所以所获的电荷图像只能确定材料的表面电荷分布和表面电荷密度的近似值。然而,嵴宽约为2.12μm表面正电荷微沟槽结构的这种特殊电荷形貌分布有利于细胞的生长,因此获得的表面电荷分布补充了生物材料表面理化性质。

关 键 词：SPM EFM 表面电荷分布  表面束缚电荷密度  表面形貌 壳聚糖膜(CHI)  

分 类 号：TN16]