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期刊文章详细信息

电子设备高功率电磁辐照效应  ( EI收录)  

Study of Electromagnetic Radiation Effects on Electronic Equipment

  

文献类型:期刊文章

作  者:谭志良[1] 刘尚合[1] 林永涛[1] 国海广[1]

机构地区:[1]军械工程学院强电磁场环境模拟与防护技术国防科技重点实验室,石家庄050003

出  处:《高电压技术》

基  金:国家自然科学基金重点资助项目(50237040)

年  份:2005

卷  号:31

期  号:10

起止页码:33-35

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:2005489516939)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:用GW级超宽带电磁脉冲辐射装置实验研究了某电子系统的辐照效应,分析了开、关门状态下设备内04、08号分系统各检测点及接收天线在不同方位时02号分系统检测点上的响应特性,结果表明:在场强E=20kV/m的超宽带源(上升时间0.3ns,脉宽3~4ns)辐照时,开门时电路上及天线最佳耦合状态下设备02分系统电路上的响应的电压均可达1.6kV;开、关门时设备响应的带宽均为0~500MHz,主频约70MHz。

关 键 词:超宽带 电磁辐照  响应  频谱分析

分 类 号:TN03]

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引证文献:

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同被引文献:

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