期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]北京大学物理学院人工微结构与介观物理国家重点实验室,北京100871
基 金:国家"863"计划(2001AA313110;2001AA313060;2001AA313140)资助项目
年 份:2005
卷 号:26
期 号:5
起止页码:617-621
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、INSPEC、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:对两组GaN基白光发光二极管(LED)进行了对比温度加速老化实验,环境温度分别是80,100℃。随着老化温度的升高,电流-电压(I-V)曲线的隧道电流段、扩散电流段以及反向漏电电流均增加,而串联电阻段则变化较小,这是位错密度升高和金属杂质沿着螺旋位错聚集及移动的结果;电容-电压(C-V)曲线中反向偏压下电容减少,正向偏压下电容增大,这是由于螺位错和混合位错产生了漏电的通道;电致发光光谱中黄光荧光成分比重增加;光通量随时间开始缓慢降低,在某一个时刻突然急剧降低,显示各个老化因素累积的影响会在某一时刻导致白光LED突然失效。最后使用阿列纽斯关系计算出所用白光LED的寿命为2.3万小时。
关 键 词:GAN基白光LED 老化 电流-电压 电容-电压 光通量 寿命
分 类 号:O472.3] O482.31[物理学类]
参考文献:
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引证文献:
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同被引文献:
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