期刊文章详细信息
X射线粉末衍射的新起点—Rietveld全谱拟合
NEW STARTING OF X RAY POWDER DIFFRACTION RIETVELD WHOLE PATTERN FITTING
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]复旦大学分析测试中心
年 份：1996
卷 号：16
期 号：2
起止页码：251-271
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1992、CSCD、CSCD2011_2012、JST、MR、ZGKJHX、核心刊
摘 要：Ｒｉｅｔｖｅｌｄ全谱拟合法及高分辨Ｘ射线粉末衍射实验方法的出现与发展，使Ｘ射线粉末衍射进入了一个新阶段，不但提高了分析结果的质量，并且使从头晶体结构测定成为可能。本文扼要介绍了Ｒｉｅｔｖｅｌｄ全谱拟合法的理论；高分辨高准确的粉末衍射装置，从头晶体结构测定方法及多晶材料结构表征的全谱拟合法（包括作物相定性分析、物相定量分析、晶粒大小及点阵畸变的测定等）
关 键 词：X射线粉末衍射 晶体 R-全谱拟合
分 类 号：O766.3] O766.4
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