期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]北京大学微电子研究所,北京100087 [2]中北大学电子测试技术国防科技重点实验室,山西太原030051
基 金:教育部新世纪优秀人才支持计划资助项目(NCET-04-0259);山西省高校青年学科带头人资助项目;山西省高校优秀创新团队资助项目
年 份:2005
卷 号:19
期 号:3
起止页码:249-253
语 种:中文
收录情况:AJ、EI(收录号:2005419413150)、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊
摘 要:通过分析高过载测试中侵彻破坏模式及其缓冲的原理和数学模型,并在此基础上利用马歇特锤对测试装置做破坏性的冲击试验,从而得出关于测试结构微型化设计、电路体的抗高过载设计以及测试系统结构的合理布局的设计原则.
关 键 词:高过载 结构防护 冲击测试
分 类 号:TM938.71]
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