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期刊文章详细信息

二氧化锡材料气敏机理的研究  ( EI收录)  

Study of Sensing Mechanism of Gas Sensitive SnO_2

  

文献类型:期刊文章

作  者:张维新[1] 柳连俊[1]

机构地区:[1]天津大学电子工程系

出  处:《Journal of Semiconductors》

年  份:1989

卷  号:10

期  号:2

起止页码:124-131

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX1992、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EBSCO、EI(收录号:1992090315859)、IC、INSPEC、JST、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:本文建立了氧离子陷阱势垒模型来说明多晶SnO_2材料的导电机制与气敏机理,推导出了不同情况下SnO_2灵敏度与还原性气体浓度的关系,以及影响该灵敏度的结构参数.实验结果表明,提出的模型能较好地解释SnO_2材料的各种气敏特性.

关 键 词:二氧化锡 多晶 气敏机理 氧离子

分 类 号:TN379]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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