期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]天津大学电子工程系
出 处:《Journal of Semiconductors》
年 份:1989
卷 号:10
期 号:2
起止页码:124-131
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX1992、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EBSCO、EI(收录号:1992090315859)、IC、INSPEC、JST、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:本文建立了氧离子陷阱势垒模型来说明多晶SnO_2材料的导电机制与气敏机理,推导出了不同情况下SnO_2灵敏度与还原性气体浓度的关系,以及影响该灵敏度的结构参数.实验结果表明,提出的模型能较好地解释SnO_2材料的各种气敏特性.
关 键 词:二氧化锡 多晶 气敏机理 氧离子
分 类 号:TN379]
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