期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]中国科学技术大学结构分析开放实验室,山西大学分析测试中心,中国科学技术大学电子系,中国科学院上海冶金研究所
年 份:1995
卷 号:12
期 号:2
起止页码:114-116
语 种:中文
收录情况:CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、ZGKJHX、普通刊
摘 要:中国古代两种黑镜表层的主要物质SnO2是一种有原子掺杂的纳米晶体。对这些纳米晶体的晶格条纹像进行计算机图象处理,可精确测量出纳米晶体的晶面间距离,从而建立了一种精确测定纳米晶体的晶面间距的方法。
关 键 词:纳米晶体 晶格条纹像 原子掺杂 晶面间距
分 类 号:O48]
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