登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

工业测控系统的发展趋势    

  

文献类型:期刊文章

作  者:魏晓龙[1]

机构地区:[1]北京康拓工业电脑公司,100080

出  处:《电子技术应用》

年  份:1995

卷  号:21

期  号:5

起止页码:43-44

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX1992、DOAJ、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:随着计算机硬件、软件技术的迅速发展及集成电路技术的日益提高,工业测控系统已取得了巨大的进步,并成为计算机技术应用领域中最具活力的一个分支.在我国,工业测控系统的发展方兴未艾.新技术、新工艺不断地向传统的技术与工艺挑战.用计算机测控系统取代老式的测控仪表,用现代的控制算法取代经典的控制算法,用灵敏、节能的新型智能传感器取代老式的变送器,已成为工矿企业及科研院所设计与改造工业测控系统重点考虑的问题.

关 键 词:工业测控系统 单片机 I/O系统 智能化

分 类 号:TP274]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心