期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]桂林电器科学研究所,541004 [2]上海华通开关厂,200072
年 份:1995
期 号:3
起止页码:27-32
语 种:中文
收录情况:普通刊
摘 要:本文对CuW(80)/CrCu与CuW(70)/CrCu两种自力型触头界面结合强度作了比较。研究了不同W粒粒度对CuW(70)硬度、电阻率、抗弯强度及抗电弧烧损性能的影响,用扫描电镜观察了触头烧损后的组织结构。阐述了电子束焊接方法的优点,探讨了焊后的检验手段。制造的CuW(70)/CrCu自力型触头装于ELF.SL2-1Ⅱ断路器上,通过了全部开关试验。
关 键 词:触头 界面结合 强度 研制 组织 焊接 铜钨合金
分 类 号:TM503.5]
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