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GaAs红外发光二极管加速寿命试验
Study on acceleration lifetime test for GaAs infrared LED
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中国电子产品可靠性与环境试验研究所
年 份：1995
卷 号：16
期 号：1
起止页码：77-81
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1992、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：近年来光电器件在航空、航天及通信领域应用相当广泛，其可靠性问题显得日益突出。如何评价其可靠性水平成为一个难点。文章通过步进应力试验的方法设计出可靠性加速寿命试验方案。用恒定应力和步进应力试验相结合的方法评价了液相外延工艺制作的ＢＴ４０１Ａ型ＧａＡｓ红外发光二极管的可靠性水平；摸清了该种器件的失效模式及寿命分布，为进一步研究该器件的可靠性问题提供了依据。
关 键 词：红外光源 应力测试 失效分析 砷化镓二极管
分 类 号：TN212.06] TN315.306
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