登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

基于TOC理论的OEE的应用    

Application of OEE based on TOC

  

文献类型:期刊文章

作  者:朱虹[1] 钱省三[1]

机构地区:[1]上海理工大学工业工程研究所微电子发展研究中心,上海200093

出  处:《半导体技术》

年  份:2005

卷  号:30

期  号:8

起止页码:4-7

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊

摘  要:在介绍OEE与TOC理论的基础上,将两者的优缺点互补,引入IEE概念进行瓶颈诊断,开展了TPM活动以提高系统整体效率,同时提出一宏观与微观相结合的企业数据收集与处理模型。结合目前国内半导体厂实时性差的特点,介绍了一晶圆制造过程实时系统工作流程。

关 键 词:设备综合效率 约束理论  设备固有效率  

分 类 号:C37[社会学类] C931.6[管理科学与工程类]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心