文献类型：期刊文章

作　　者：张艺[1] 沈为民[2]

机构地区：[1]浙江育英职业技术学院,浙江杭州310018 [2]中国计量学院,光电信息工程系浙江杭州310018

出　　处：《浙江大学学报（理学版）》

基　　金：浙江省自然科学基金资助项目(102018).

年　　份：2005

卷　　号：32

期　　号：4

起止页码：403-406

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAB、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、IC、JST、MR、PROQUEST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、ZMATH、ZR、核心刊

摘　　要：根据电磁场的边值关系,导出了不同于菲涅耳公式的晶体界面光振幅的关系,提出了晶体锥光干涉中两相干光的位相差和振幅的计算方法.计算结果用数字图像表示,能够直观地显示出晶体锥光干涉图的特征.对不同取向的铌酸锂晶片进行实验,实验干涉图与理论干涉图的特征完全一致.

关 键 词：晶体光学 锥光干涉图 菲涅耳公式 单轴晶体 偏振

分 类 号：O436.1]