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期刊文章详细信息

微电阻率扫描成像测井方法应用及发展前景    

Application and prospect of the formation microresistivity image well logging

  

文献类型:期刊文章

作  者:王珺[1] 杨长春[1] 许大华[2] 迟秀荣[3] 谭茂金[2]

机构地区:[1]中国科学院地质与地球物理研究所,北京100029 [2]胜利测井公司,东营257000 [3]大港测井公司,天津300280

出  处:《地球物理学进展》

基  金:中国科学院知识创新工程重大项目(KZCX1SW18)资助.

年  份:2005

卷  号:20

期  号:2

起止页码:357-364

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2004、CSCD、CSCD2011_2012、JST、ZGKJHX、核心刊

摘  要:阐述了微电阻率扫描成像(简称FMI)测井方法在我国的应用和发展前景。微电阻率扫描成像测井能够对井筒周围地层介质直观、清晰、高分辨率地成像,有助于解决当前测井技术面临的三大地质难题:砂泥岩薄互层储层的有效划分,裂缝性油藏的裂缝和储集性能分析,复杂岩性油藏的参数评价。但也存在测速慢、费用高、定量解释效果差等不足。国际三大测井公司在这方面的研究起步较早,并取得了重要的成果.且早已投入商用.我国在这方面的研究也有很大进展,在未来的发展中,应针对一些理论和技术上的难点分别突破,尽快推出更加适合我国地质特征的微电阻率扫描成像测井仪器和解释手段.

关 键 词:微电阻率扫描成像测井  电流聚焦  储层评价 发展前景  

分 类 号:P631]

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同被引文献:

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