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期刊文章详细信息

相移掩模方法及其一维数值模拟    

Phase-Shifting Mask and 1D Computer Simulation

  

文献类型:期刊文章

作  者:周静[1] 龙品[1] 刘大禾[1] 徐大雄[1] 陈宝钦[1] 梁俊厚[1]

机构地区:[1]北京邮电大学应用科技系,北京师范大学物理系,中国科学院微电子中心研究部

出  处:《高技术通讯》

基  金:863计划资助项目

年  份:1994

卷  号:4

期  号:11

起止页码:24-28

语  种:中文

收录情况:CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘  要:相移掩模方法是一种新的光刻技术,它可以提高现有光刻设备的分辨率,使超大规模集成电路及二元光学的制作迈上一个新台阶。本文介绍了相移掩模方法的基本原理,用部分相干光成象理论分析了用于光刻的投影照相系统的成象特性,导出了一维成象的简化公式,对一维光栅结构进行了计算机数值模拟并给出了模拟结果。

关 键 词:相移掩模 光刻 数值模拟 超大规模  集成电路

分 类 号:TN470.2]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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