文献类型：期刊文章

作　　者：刘阳[1] 于建平[1] 孙冲[1] 崔展鹏[1] 刘占卿[1]

机构地区：[1]北京特种工程设计研究所,北京100028

出　　处：《真空科学与技术学报》

年　　份：2005

卷　　号：25

期　　号：2

起止页码：127-133

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、EI(收录号：2005259171627)、JST、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：建立了多级串联密封系统的数学模型,通过理论分析和数值计算,揭示了多级串联密封结构正压泄漏的漏率、漏量与泄漏时间关系的一般规律。给出了三级密封系统泄漏的仿真计算实例。通过三级串联密封泄漏实验验证了多级串联密封泄漏理论的正确性。该泄漏规律可用于多级串联密封结构系统的设计、检漏和泄漏安全评估。

关 键 词：密封系统  多级串联  实验研究  仿真 串联密封  数学模型 数值计算  密封结构 时间关系  计算实例  泄漏理论  密封泄漏  三级串联  结构系统 安全评估 正确性  漏率

分 类 号：TQ052.4] TH136]