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期刊文章详细信息

EMC封装成形常见缺陷及其对策    

Limitations and Countermeasures of EMC in Packaging Molding

  

文献类型:期刊文章

作  者:谢广超[1]

机构地区:[1]江苏中电华威电子股份有限公司,江苏连云港222004

出  处:《电子与封装》

年  份:2005

卷  号:5

期  号:6

起止页码:19-22

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:本文主要通过对EMC封装成形的过程中,常出现的问题(缺陷)——未填充、气孔、麻点、冲丝、开裂、溢料、粘模等,进行分析与研究,并提出行之有效的解决办法与对策。

关 键 词:EMC 成形  缺陷  对策  

分 类 号:TN305.94]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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