文献类型：期刊文章

作　　者：张军[1]

机构地区：[1]昆明冶金高等专科学校测绘与冶金工程系,云南昆明650033

出　　处：《昆明冶金高等专科学校学报》

年　　份：2005

卷　　号：21

期　　号：3

起止页码：1-4

语　　种：中文

收录情况：CAS、CSA、CSA-PROQEUST、JST、普通刊

摘　　要：根据工业生产的要求,研究了灵活地调整粉磨产品的中位粒径D50,以及D85、D90、D97等任意的粒度尺寸和分布范围的实际需要。其方法是用激光粒度测试仪测得频度(微分)、累积(积分)分布的数据,通过建立数学模型,应用计算机计算技术,并结合高纯超细硅微粉的粉磨工艺系统进行研究;经激光粒度仪测定的数据按数学模型分2组分、3组分或多组分输入计算机计算处理,然后按计算结果调配出需要的粒度分布。系统可及时地打印输出调整后的频度分布和累积分布图,以及相应的数据组。若与粉磨系统的在线取样和分析配合,即可实时控制生产系统的产品粒度分布,能及时地调节控制生产,满足产品质量控制的要求。

关 键 词：激光粒度仪 数学模型 频度分布  累积分布  

分 类 号：TD921.4]