文献类型：期刊文章

作　　者：刘小灵[1] 刘汉华[1] 郑学仁[1] 李斌[1] 冯秉刚[1] 彭俊彪[2]

机构地区：[1]华南理工大学微电子研究所,广东广州510640 [2]华南理工大学高分子光电材料及器件研究所,广东广州510640

出　　处：《液晶与显示》

基　　金：国家高技术研究发展计划("863"计划)资助项目(No.2002AA303240);教育部重点基金资助项目(No.02154;No.104208)

年　　份：2005

卷　　号：20

期　　号：2

起止页码：140-144

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EBSCO、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：设计了一种方便测试OLED显示屏特性的驱动电路。用此驱动电路研究了与驱动方式相关的OLED显示屏特性即“串扰”、老化、击穿等,观测到与OLED“形成过程”相对应的“恢复过程”。实验结果表明,通过对驱动电路采取适当的措施,能够减轻“串扰”和击穿对显示屏造成的影响,并延长显示屏的使用寿命。

关 键 词：有机发光二极管 驱动电路 形成过程  恢复过程  

分 类 号：TN873.3] TN710