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成败型寿命试验──GLM和E-M算法
BINARY LIFE DATA--GLM AND E-M ALGORITHM
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]云南省应用数学研究所 [2]云南大学统计系
年 份：1994
卷 号：14
期 号：1
起止页码：29-38
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1992、CSCD、CSCD2011_2012、JST、MR、ZGKJHX、ZMATH、核心刊
摘 要：成败型寿命试验──ＧＬＭ和Ｅ－Ｍ算法王学仁云南省应用数学研究所石磊（云南大学统计系，昆明６５００９１）１９９０年１０月１５日收到．１９９２年８月２４日收到修改稿．一、引言在可靠性分析中，成败型寿命试验是经常碰到的问题．某些产品随着时间的推移，其可靠程...
关 键 词：寿命试验 GLM算法 可靠性 E-M算法
分 类 号：O213.2]
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