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期刊文章详细信息

一种双端测距算法的伪根问题与改进    

False root and its improvement of a two-terminal fault location algorithm on transmission line

  

文献类型:期刊文章

作  者:辛振涛[1] 尚德基[2] 尹项根[1]

机构地区:[1]华中科技大学电气与电子工程学院,湖北武汉430074 [2]郑州广播电视大学,河南郑州450052

出  处:《继电器》

年  份:2005

卷  号:33

期  号:6

起止页码:36-38

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2004、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:双端故障测距由于不受过渡电阻和系统阻抗等因素的影响,得到了广泛的关注。但在利用长线方程沿线推导故障点电压幅值的测距算法中,原理上存在伪根的可能性,在某些情况下,会得到错误的测距结果,因此需要对该测距算法进行改进。该文首先对产生伪根的原因进行了深入地分析,并在此基础上,对原算法进行了改进,提出了判别伪根的原则,使其更具通用性,并利用EMTP程序仿真验证了改进后的测距算法。

关 键 词:测距 算法  伪根  EMTP

分 类 号:TM744]

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引证文献:

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同被引文献:

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