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期刊文章详细信息

高速电路的信号完整性分析    

Signal integrity analysis in high speed design

  

文献类型:期刊文章

作  者:孙宇贞[1]

机构地区:[1]上海电力学院信息与控制技术系,200090

出  处:《电子技术应用》

年  份:2005

卷  号:31

期  号:3

起止页码:73-76

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2004、DOAJ、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:介绍了高速PCB设计中的信号完整性概念以及破坏信号完整性的原因,从理论和计算的层面上分析了高速电路设计中反射和串扰的形成原因,并介绍了IBIS仿真。

关 键 词:信号完整性 高速电路设计 PCB设计 串扰  IBIS 仿真  反射  

分 类 号:TN402] TN41

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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