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期刊文章详细信息

半导体激光器的低频电噪声谱密度和器件的可靠性  ( EI收录)  

Low-frequency noise spectral density and reliability of semiconductor laser

  

文献类型:期刊文章

作  者:石家纬[1] 金恩顺[1] 马靖[1] 戴逸松[2] 张新发[2]

机构地区:[1]集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学分区,长春130023 [2]吉林工业大学,长春130021

出  处:《中国激光》

基  金:集成光电子学国家重点联合实验室资助

年  份:1993

卷  号:20

期  号:10

起止页码:729-732

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX1992、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:本文给出了半导体激光器的低频电噪声谱密度和器件可靠性关系的实验结果。

关 键 词:激光器 噪声 可靠性 半导体激光器

分 类 号:TN248.4]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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