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平滑、导数、基线校正对近红外光谱PLS定量分析的影响研究 ( EI收录 SCI收录)
Influence of Smooth, 1st Derivative and Baseline Correction on the Near-Infrared Spectrum Analysis with PLS
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]吉林大学物理学院,物理教学研究中心,吉林长春130025 [2]中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春130022
年 份:2004
卷 号:24
期 号:12
起止页码:1546-1548
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、PUBMED、RCCSE、RSC、SCI(收录号:WOS:000226127200016)、SCI-EXPANDED(收录号:WOS:000226127200016)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:基于偏最小二乘法 ,利用平滑、导数、基线校正预处理手段 ,对近红外光谱进行了定量分析 ,比较了分析结果 ,给出了不同预处理方法的PRESS值和RMSEC的值 ,比较并选取了最佳预处理方法。在平滑预处理方法中 ,比较了不同平滑点数对预测的影响 ,确定了最佳平滑点数 ,通过采用PLS回归分析 ,与原始光谱数据回归比较 ,结果令人满意。
关 键 词:平滑 PLS回归 近红外光谱 基线校正 定量分析 影响研究 分析结果 导数 点数 光谱数据
分 类 号:O657] R363[化学类]
参考文献:
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