文献类型：期刊文章

作　　者：王斗文[1] 韩大卫[2] 于华[3]

机构地区：[1]辽宁出入境检验检疫局,辽宁大连116001 [2]大连理工大学管理学院,辽宁大连116024 [3]大连轻工业学院数理系,辽宁大连116034

出　　处：《计量学报》

基　　金：国家商检局科学基金(K9802)

年　　份：2005

卷　　号：26

期　　号：1

起止页码：93-96

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：2005098866673)、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：对电感耦合等离子体 原子发射光谱法(ICP AES)测定金属硅中铁杂质含量的不确定度进行了合成和评估。通过建立被测对象的函数关系式Fe%=f(p,q,r,…),对其中的影响因素p、q、r、…做全面地分析评定。在此基础上求得不确定度的合成量,保证ICP AES测量系统检测结果的有效性和合理性。

关 键 词：计量学 电感耦合等离子体-原子发射光谱法 金属硅 不确定度

分 类 号：TB99]