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期刊文章详细信息

TiO_2形态对ZnO压敏电阻微结构和性能的影响  ( EI收录)  

Effect of TiO_2 Forms on the Microstructure and Property of Low-voltage ZnO Varistor

  

文献类型:期刊文章

作  者:许业文[1] 何忠伟[1] 徐政[1] 孙丹峰[2]

机构地区:[1]同济大学材料科学与工程学院 [2]苏州中普电子有限公司,江苏苏州215011

出  处:《建筑材料学报》

年  份:2005

卷  号:8

期  号:1

起止页码:105-108

语  种:中文

收录情况:CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:2005149026157)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘  要:简要介绍了研究ZnO低压压敏电阻的必要性;对比分析了微米粉体、纳米粉体和纳米胶体3种不同形态TiO2添加剂促进ZnO压敏电阻晶粒长大、压敏电压降低的效果,发现纳米胶体TiO2的效果优于其他2种形态的TiO2.

关 键 词:TIO2 纳米粉体 压降 性能  形态  微结构 添加剂  ZNO压敏电阻 纳米胶  压敏电压

分 类 号:TU113.83] TM33]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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