文献类型：期刊文章

作　　者：徐涛[1] 高玉成[2] 武星[1]

机构地区：[1]天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津300072 [2]天津大学精密仪器厂,天津300072

出　　处：《仪器仪表学报》

年　　份：2005

卷　　号：26

期　　号：1

起止页码：13-16

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：2005098867114)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：传统的对于光阻法原理的解释 ,是在对大粒径粒子测量的基础上获得的。它认为微粒对光束的遮挡效应直接导致了传感器信号的变化 ,这是基于几何光学的一种假设。根据 Mie散射理论对处于光束中的微粒对光的作用的描述 ,该假设只有在微粒具有较大的电导率或介电常数 ,或微粒粒径远大于入射光波长的条件下才能被接收 ,而对于较小粒径的粒子并不合理 ,经过推导 ,得出了此时对光阻法原理的另一种解释 ,并依照 Mie散射理论对其进行了修正。经过相关的实验 ,这种解释被证明是对于小微粒光阻法检测的一种更合理的解释。

关 键 词：光阻法 微粒 合理  实验  原理分析  作用  粒径 MIE散射理论 粒子测量  光束

分 类 号：TH774[仪器类] R927]