文献类型：期刊文章

作　　者：江腾蛟[1] 黄伟[1] 齐文宗[1] 凌秀兰[2] 杨富[3] 张彬[1] 蔡邦维[1]

机构地区：[1]四川大学电子信息学院,四川成都610064 [2]中国科学院光电技术研究所,四川双流610209 [3]河北北方学院物理系,河北张家口075028

出　　处：《强激光与粒子束》

基　　金：国防科技基础研究基金资助课题

年　　份：2004

卷　　号：16

期　　号：12

起止页码：1497-1500

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2000、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：2005098865693)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：　采用表面热透镜技术,对3.8μm和2.8μm激光辐照下镀制在Si基底上的单层ZnS,YbF3和YBC薄膜及不同膜系的YbF3/ZnS多层分光膜和多层高反膜,以及镀制在CaF2基底上的增透膜进行了吸收测量,并对3.8μm和2.8μm激光的测量结果进行了比较分析。实验结果表明,2.8μm波长下的吸收比3.8μm的大得多,两者之间约相差一个量级,测得的多层高反膜YbF3/ZnS薄膜在的3.8μm处的最低吸收为4.57×10-4,测量系统的灵敏度约为10-5。

关 键 词：表面热透镜技术  3.8μm激光  2.8μm激光  微弱吸收  光学薄膜

分 类 号：O432.2]