期刊文章详细信息
使用扫描电子显微镜和X射线能谱仪测量镀金层厚度的方法研究
Investigation on measurement of the thickness of gold plating by scanning electronic microscope and X-ray energy dispersive spectrum
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京邮电大学自动化学院电接触科研室,北京100876
年 份：2003
卷 号：22
期 号：6
起止页码：537-538
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊
关 键 词：扫描电子显微镜 X射线能谱仪 电子连接器 镀金层 厚度
分 类 号：TM503.5] TQ153.18]
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