期刊文章详细信息
VLSI可测性设计研究
Summary of VLSI Design-for-Test
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]航天时代电子公司研究院微电子技术研究部,北京100076
年 份：2004
卷 号：21
期 号：10
起止页码：189-192
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX2000、CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、ZGKJHX、核心刊
摘 要：从可测性设计与VLSI测试、VLSI设计之间的关系出发,将与可测性设计相关的VLSI测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起。文中简要地介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类,简明地评述了可测性设计的现状和发展趋势,并且探讨了可测性设计的实现方法。
关 键 词：可测性设计 自动测试生成 扫描设计 边界扫描技术 嵌入式自测试 测试外壳 模拟测试总线
分 类 号：TN470.2]
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