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期刊文章详细信息

半导体激光器的电导数测试和可靠性分析    

Electrical Derivative Measurement and Reliability Analysis of Semiconductor Lasers

  

文献类型:期刊文章

作  者:金恩顺[1] 石家纬[1] 马靖[1] 李正庭[1] 高鼎三[1]

机构地区:[1]吉林大学电子科学与技术研究所

出  处:《吉林大学自然科学学报》

基  金:国家自然科学基金

年  份:1993

期  号:2

起止页码:51-54

语  种:中文

收录情况:AJ、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、INSPEC、MR、ZGKJHX、ZMATH、普通刊

摘  要:采用电导数测量技术,测量了质子轰击型GaAs/GaAlAs激光器的器件参数,探讨了这些参数与半导体激光器可靠性的关系.

关 键 词:半导体激光器 器件参数  可靠性

分 类 号:TN248.4]

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同被引文献:

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