文献类型：期刊文章

作　　者：王斗文[1] 赵雪蓉[1] 曾泽[1] 赵嗣奇[2]

机构地区：[1]辽宁出入境检验检疫局,辽宁大连116001 [2]沈阳农业大学动物科学系,辽宁沈阳110161

出　　处：《光谱学与光谱分析》

基　　金：国家商检局科学基金资助项目 (K980 2 )

年　　份：2004

卷　　号：24

期　　号：10

起止页码：1248-1252

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、PUBMED、RCCSE、RSC、SCI(收录号：WOS:000224881600026)、SCI-EXPANDED(收录号：WOS:000224881600026)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：采用ICP AES(电感耦合等离子体 原子发射光谱法 )测定金属硅中铁杂质含量进行不确定度评估时 ,提出了平均移动极差 (MR)合并统计动态监控技术。研究认为 ,采用该技术来进行ICP AES测量系统的不确定度评估 ,其贡献量分别是由控制样品 (QC)和线性拟合两部分合成。这一结论的得出能最大限度合成各种变异因素的影响 ,避免了相关性的复杂计算 ,有利于ICP

关 键 词：移动极差  统计合并技术  监控  ICP-AES测量系统  电感耦合等离子体原子发射光谱 不确定度 金属硅 铁杂质 含量测定  

分 类 号：O614.811] O657.3[化学类]