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用单色光等倾干涉测平板透明体厚度和折射率
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]西安工业学院数理系,陕西西安710032 [2]西安工程科技学院电信学院,陕西西安710048
年 份：2004
卷 号：17
期 号：3
起止页码：277-279
语 种：中文
收录情况：CAS、CSA、CSA-PROQEUST、IC、RCCSE、SCOPUS、WTA、ZGKJHX、ZMATH、普通刊
摘 要：提出用单色光等倾干涉同时测量平板透明体厚度和折射率新方法,对透明体尺寸有所放宽,干涉仪光学系统经测量前校准,测量过程中只需调整、更换被测物,观察、测量被测物的等倾干涉条纹变化,光学部分不再调整.实验证明,这种方法精确、简单、快捷,对被测物无损伤.
关 键 词：单色光 等倾干涉 平板透明体
分 类 号：O459]
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