期刊文章详细信息
氧化锌中的本征点缺陷对材料光电性能的影响 ( EI收录)
Influence of Intrinsic Point Defects on Luminescent and Electrical Properties of ZnO
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]浙江大学信电系微电子技术与系统设计研究所,杭州310027
基 金：国家自然科学基金(No.60176027)
年 份：2004
卷 号：18
期 号：9
起止页码：79-82
语 种：中文
收录情况：CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、UPD、ZGKJHX、普通刊
摘 要：ZnO薄膜中的本征点缺陷对材料的电学、发光性能有着至关重要的影响。目前,对本征点缺陷的研究是ZnO领域的一大热点,也是实现ZnO基光电器件的关键技术之一。本文结合最新研究,扼要综述了本征点缺陷的电荷特性、对本征ZnO为n型的作用机理、对p型ZnO制备的影响及点缺陷对薄膜绿光发光的贡献。
关 键 词：本征 点缺陷 光电性能 光电器件 发光性能 绿光 ZNO薄膜 氧化锌 电学 领域
分 类 号：TB383[材料类] O413.1]
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