文献类型：期刊文章

作　　者：刘震[1] 关文涛[1] 张桂芬[1]

机构地区：[1]天津振兴水泥有限公司,天津300400

出　　处：《水泥技术》

年　　份：2004

期　　号：5

起止页码：96-99

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：1绪论 使用压片法对熟料进行X射线荧光分析是比较困难的,熟料在形成过程中由于窑的工况、冷却效果的差异等因素的影响,造成熟料矿物中的晶体结构和晶形不尽相同,基体效应比较明显.使用压片法进行X射线荧光分析时主要的误差就来源于基体效应,因此在很多文献中都不建议使用压片法测定熟料化学成分,而建议使用融片法分析熟料化学成分.但众所周知,压片法有着融片法所不能比拟的众多优点,分析速度快,投资较少(不需要使用昂贵的熔片机和熔剂),制样方法简单,特别适用于日常生产控制;同时,有些原料适于进行压片分析(水泥工业中的生料存在较大的烧失量,使用熔片法分析时必须高温灼烧一段时间,无法及时准确地提供用于日常控制的生料数据.),因此,研究使用压片法分析熟料化学成分有较大意义.

关 键 词：熟料 压片法  X荧光分析仪  晶形 成分  基体效应  X射线荧光分析 晶体结构 误差  比拟  

分 类 号：TQ172.16]