登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

失效连接器触点表面的SEM和EDS分析    

Analysis of the contact surface on failed connectors by SEM and EDS

  

文献类型:期刊文章

作  者:冯萃峰[1] 周怡琳[1]

机构地区:[1]北京邮电大学自动化学院电接触科研室,北京100876

出  处:《电子显微学报》

基  金:国家自然科学基金资助项目 (No .5 0 2 770 0 2 )

年  份:2004

卷  号:23

期  号:4

起止页码:490-490

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

关 键 词:电子连接器 接触故障 失效分析  扫描电子显微镜 X射线能谱仪  

分 类 号:TM503.5]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心