文献类型：期刊文章

作　　者：易亨瑜[1] 吕百达[1] 胡晓阳[2] 田小强[2] 张凯[2]

机构地区：[1]四川大学激光物理与化学研究所,四川成都610064 [2]中国工程物理研究院应用电子学研究所,四川绵阳621900

出　　处：《强激光与粒子束》

基　　金：中国工程物理研究院基金资助课题

年　　份：2004

卷　　号：16

期　　号：8

起止页码：993-996

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2000、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：2004468459088)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：　只考虑腔长失调因素下建立了反射率模拟测量的理论模型。根据高斯光束传输规律分析了腔长失调对衰荡腔模式耦合的影响,推导了腔长失调与谐振腔输出脉冲信号、衰荡信号与反射率之间的关系,模拟了腔长失调在±10mm范围内的光脉冲衰荡现象。结果表明:对于光敏面直径为0.2mm的高速探测器,为了保证10-6的测量精度,腔长的失调量应控制在±1mm之间。在光路调节中采用具有对数变换功能的示波器和动态范围较大的探测器,可以提高测量精度。

关 键 词：光学测量 测量精度  光腔衰荡 腔长失调  

分 类 号：TN248] O484.5]