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期刊文章详细信息

复合材料分层检测用光纤Mach-Zehnder干涉仪    

Mach-Zehnder interferomenter used for detecting delamination in composite

  

文献类型:期刊文章

作  者:江毅[1] 江天府[2]

机构地区:[1]北京理工大学信息科学技术学院光电工程系,北京100081 [2]中国民航飞行学院计算机与信息工程系,广汉618307

出  处:《光学技术》

年  份:2004

卷  号:30

期  号:4

起止页码:464-466

语  种:中文

收录情况:CAS、CSCD、CSCD2011_2012、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘  要:发展了一种能够有效检测复合材料分层的光纤Mach Zehnder干涉仪。用一只2×2耦合器和一只3×3耦合器构成光纤干涉仪,输出信号经A/D转换后送入计算机,用软件进行信号解调。将此干涉仪的一个臂埋入材料内部或粘贴在复合材料表面,沿光纤逐点下压材料,通过光纤干涉仪测量出传感光纤形变的大小和方向,这样就能够有效的检测出材料内部是否存在分层。

关 键 词:光纤传感器 MACH-ZEHNDER干涉仪 复合材料 分层  

分 类 号:TH744.3]

参考文献:

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二级参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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