文献类型：期刊文章

作　　者：亢俊健[1] 张世英[2] 苏美开[3] 王大成[4]

机构地区：[1]石家庄经济学院光电技术研究所,石家庄050031 [2]西安武警工程学院通信系,西安710086 [3]北京理工大学光电工程系,北京100081 [4]交通部水运科学研究所,北京100088

出　　处：《激光技术》

年　　份：2004

卷　　号：28

期　　号：3

起止页码：228-230

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：介绍了半导体激光器 (LD)加速寿命测试的理论依据 ,给出了寿命测试的数学模型 ,并据此研制了新型LD寿命测试系统。该系统在密封抽真空充氮环境下 ,通过采集恒功工作LD的工作电流随时间变化的信息及所处环境的温度 ,绘制出LD的老化曲线 ,即恒功条件下的“I t曲线” ,然后推断LD的使用寿命。

关 键 词：激光与光电子学  半导体激光器 加速寿命测试  Arrhenius模型  

分 类 号：TN248.4]