文献类型：期刊文章

作　　者：黄光明[1] 胡秉谊[1] 刘立民[1] 刘武[1] 任多敏[2]

机构地区：[1]华中师范大学场致发射实验室 [2]中国科学技术大学基础物理中心

出　　处：《云南大学学报（自然科学版）》

年　　份：1992

卷　　号：14

期　　号：S1

起止页码：31-33

语　　种：中文

收录情况：AJ、CAB、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、IC、JST、MR、RCCSE、ZGKJHX、ZMATH、普通刊

摘　　要：场致发射显微分析术是基于量子隧道效应工作的显微分析术.自问世以来,在它发展的各个阶段,均为当时分辨最高的显微分析工具.由于它结构简单,分辨率高,能直接给出表面原子在真实空间的图象,成为研究分析固体表面、界面和微观结构的有力工具,受到各发达国家的充分重视.本文从场致发射显微分析技术的发展现状出发,说明了研制场致发射显微分析综合系统的意义,并介绍该系统的特点、主要功能和运用它所取得的初步成果.

关 键 词：场发射 综合系统  微观结构 负离子谱.  

分 类 号：N55]