文献类型：期刊文章

作　　者：蔡青[1] 黄昌清[1] 梁培[1] 董前民[1]

机构地区：[1]中国计量学院光学与电子科技学院光电工程研究所,杭州310018

出　　处：《光子学报》

基　　金：国家自然科学基金青年基金(No.61006051);浙江省科技厅重大科技攻关优先主题重点项目(No.2010C11068)资助

年　　份：2012

卷　　号：41

期　　号：4

起止页码：430-435

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：采用平面波展开法研究了四种二维光子晶体结构(圆柱介质柱四方晶格、圆柱介质柱三角晶格、正方介质柱四方晶格、正方介质柱三角晶格)的带隙宽度随介质柱尺寸变化的关系.使用平面波展开法计算常规晶格和表面缺陷晶格的模式并进行结果叠加,研究了各结构的二维光子晶体在带隙宽度最大时的表面模式.结果表明,同种晶格的光子晶体带隙宽度随着介质柱的尺寸增大呈先增后减趋势,存在最大值.随着表面介质柱尺寸的增加,四种晶格表面模式曲线均呈下降趋势.四方晶格光子晶体与三角晶格相比,表面介质柱尺寸的变化范围更大,但能获取表面模式频率范围较小.

关 键 词：光子晶体 平面波展开法 带隙宽度  表面模

分 类 号：O734]