期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]中国人民解放军某部队,北京100094
年 份:2010
卷 号:27
期 号:6
起止页码:693-697
语 种:中文
收录情况:JST、ZGKJHX、普通刊
摘 要:随着航天电子器件集成度的不断提高,其发生单粒子效应的风险越来越高,已经成为影响航天器可靠性和运行寿命的重要因素。文章首先介绍了单粒子效应的发生机理、研究方法和研究成果,在此基础上对现有的各种抗单粒子效应加固技术进行了总结,按照硬件加固技术、软件加固技术和轨道优化设计的思路较为系统地论述了单粒子效应的防护手段。
关 键 词:单粒子效应 抗辐射加固 硬件加固 软件加固
分 类 号:TL7]
参考文献:
正在载入数据...
二级参考文献:
正在载入数据...
耦合文献:
正在载入数据...
引证文献:
正在载入数据...
二级引证文献:
正在载入数据...
同被引文献:
正在载入数据...