期刊文章详细信息
随机存取存储器故障分析及测试方案实现
RAM faults analysis and scheme realization for testing
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]杭州士兰微电子股份有限公司,浙江杭州310012 [2]中国计量学院质量与安全工程学院,浙江杭州310018
年 份：2010
卷 号：21
期 号：3
起止页码：257-262
语 种：中文
收录情况：AJ、CSA、CSA-PROQEUST、IC、PROQUEST、普通刊
摘 要：通过随机存取存储器(RAM)物理电路缺陷分析,建立了RAM故障模型.在RAM故障模型的基础上,分析了传统RAM测试算法MARCH-C算法的不足和缺陷,提出了改进的MARCH-C算法.该算法不但适用于面向位的测试,而且适用于面向字节或字的RAM测试.基于该算法,构建了用于SOC片内RAM和通用RAM的系统测试方案.实验表明,RAM故障模型和改进的MARCH-C算法的有效性.
关 键 词：随机存取存储器检测 故障模型 故障表现
分 类 号：TP333]
参考文献：
正在载入数据...
二级参考文献：
正在载入数据...
耦合文献：
正在载入数据...
引证文献：
正在载入数据...
二级引证文献：
正在载入数据...
同被引文献：
正在载入数据...
