期刊文章详细信息
几种电子电路的测试技术探讨
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]湖北省荆门职业技术学院电子信息工程学院
年 份：2006
期 号：8
起止页码：8-9
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：数字电路安装之前对所选用的数字集成电路器件进行逻辑功能测试,避免因器件功能不正常而增加调试的困难。本文分析探讨了几种电子电路的测试技术,供参考。
关 键 词：数字电路 集成电路 测试
分 类 号：TN707]
参考文献：
正在载入数据...
二级参考文献：
正在载入数据...
耦合文献：
正在载入数据...
引证文献：
正在载入数据...
二级引证文献：
正在载入数据...
同被引文献：
正在载入数据...
